Цього тижня хочемо представити вам інноваційну розробку «Вимірювальна система Structurescope EG», розробником якої є вчений приладобудівного факультету Юрій Калениченко.
Вимірювальна система Structurescope EG створена з метою характеризування матеріалів неруйнівними методами. Система є простою в використанні альтернативою до загальноприйнятих підходів у визначенні мікроструктури, таких як вимірювання твердості, вибіркове травлення хімічними реактивами, декорування, електронна мікроскопія тощо. Найбільш затребуване застосування в системах контролю якості результатів впливів на мікроструктуру матеріалу, таких як термічна обробка або деформування, а також виявлення змін в мікроструктури матеріалу під час динамічних і статичних навантажень в процесі експлуатації виробів — втоми.
Основними перевагами системи є:
– точність, швидкість, безпека неруйнівних операцій контролю мікроструктури, визначення варіації мікроструктури на певних визначених ділянках;
– можливість повної автоматизації і роботизації операцій контролю мікроструктури;
– можливість охвату операціями контролю мікроструктури на масовому виробництві;
– можливість повної інтеграції з системами класу Industry 4.0, статистичного управління якістю виробничих процесів;
– можливість інтеграції до програм Integrated Computational Materials Engineering, Materials Genome Initiative.
Дизайн системи виконаний на базі патентованих інноваційних рішень:
Високоточного цифрового вимірювання амплітудно-фазове-амплітудних характеристик (АФАХ) полігармонійних сигналів (з першої по 9 гармоніку включно) — амплітуди сигналів до 10^(-5) V, фазових характеристик до 0,01 Degree.
Способів встановлення зв’язку виміряних АФАХ з симетрією фізичних властивостей кристалів і кристалоподібних структур внаслідок залежності останніх від симетрії прикладеного зовнішнього поля, що дозволяє характеризувати мікроструктури такими фізичними величинами як амплітуда і фаза.
На даний час система функціонує у вигляді лабораторного макету.